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  • FCP磁場控制平臺

    FCP磁場控制平臺是根據(jù)磁控原理設計的理想磁測量系統(tǒng),磁場范圍超過3T,利用TESTIK475高斯計穩(wěn)定磁場控制,適合各系列電磁鐵配置,連續(xù)可變的電磁氣隙,實心的和光學入口極帽,線型雙極,真實四象限電磁鐵電源。

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點擊量:1697 更新日期:2025-10-30
  • JH60D霍爾效應測試系統(tǒng) 半導體材料測量儀

    霍爾效應測試系統(tǒng) 半導體材料測量儀 技術指標: * 磁 場:大于 5000 高斯(間距 18mm) * 樣品電流:±50 納安~±50 毫安(小可調(diào)節(jié)電流為 0.1nA) * 測量電壓:0.1 微伏~30 伏 * 提供各類測試標準材料,各級別硅與砷化鎵(靈敏度與精度不同) * 小分辨率: 1GS * 磁場范圍: 0.5T * 配合高斯計或數(shù)采板可計算機通訊

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點擊量:1095 更新日期:2025-10-30
  • JH60E變溫霍爾測量系統(tǒng)

    變溫霍爾測量系統(tǒng)組成:本儀器系統(tǒng)由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統(tǒng)軟件組成。為本儀器系統(tǒng)專門研制的 JH10 效應儀將恒流源,六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體,大大減化了實驗的連線與操作。

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點擊量:989 更新日期:2025-10-25
  • jh60-d教學霍爾測試儀 半導體材料電學測量

    教學霍爾測試儀 半導體材料電學測量 技術指標: 磁 場:10mm 間距為 2T 30mm 間距為 1T * 樣品電流:0.05uA~50mA(調(diào)節(jié) 0.1nA) * 測量電壓:0.1uV~30V * 提供各類測試標準材料,各級別硅與砷化鎵(靈敏度與精度不同) * 小分辨率:0.1GS * 磁場范圍:0-1T * 配合高斯計或數(shù)采板可計算機通訊

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 點擊量:1577 更新日期:2025-10-30
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